透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現低溫電學測量或全溫區測量功能。

性能指標
 

透射電子顯微鏡指標：

● 兼容指定型號電鏡及極靴；

● 單傾可選高傾角版本；

● 可選雙傾版本，β角傾轉±25°（同時受限于極靴）；

● 測量電極數可選。

電學測量指標：

● 包含一個電流電壓測試單元；

● 電壓輸出最大±200 V，最小±100 nV；

● 電流測量最大±1.5 A，最小100 fA；

● 恒壓或者恒流模式；

● 自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。

低溫指標：

● 兼容MEMS加熱及電學芯片；

● 全溫區測量，溫度范圍：85 K- 380 K；

● 控溫穩定性：優于±0.1 K；

● 溫度連續可控。

             以上就是澤攸科技對PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統的介紹，關于整套系統價格請咨詢18817557412(微信同號)

透射電鏡TEM/掃描電鏡SEM核心產品推薦

ZEM15國產臺式掃描電鏡

國產臺式掃描電鏡來了

透射電鏡冷凍樣品桿

透射電鏡真空轉移樣品桿（單/雙傾）

透射電鏡多孔樣品桿（單/雙傾）

透射電鏡360°水平旋轉樣品桿（單/雙傾）

透射電鏡原位拉伸樣品桿