透射電鏡樣品桿是如何使用的?
透射電鏡每做好一個樣品，首先要安置在樣品時候不會損害透射電鏡的光學性質或者讓氣體桿上，然后插入透射電鏡樣品臺才能進行抽真進入透射電鏡的真空區域。 透射電鏡樣品桿是利用高能電子束充當照明光源而進行放大成像的大型顯微分析設備，利用透射電鏡電學測試樣品桿與掃描電鏡相結合，成功搭建出在掃描電鏡和透射電鏡中通用的原位電學性能測......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-11-07
透射電鏡每做好一個樣品，首先要安置在樣品時候不會損害透射電鏡的光學性質或者讓氣體桿上，然后插入透射電鏡樣品臺才能進行抽真進入透射電鏡的真空區域。 透射電鏡樣品桿是利用高能電子束充當照明光源而進行放大成像的大型顯微分析設備，利用透射電鏡電學測試樣品桿與掃描電鏡相結合，成功搭建出在掃描電鏡和透射電鏡中通用的原位電學性能測......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-11-07
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環境，實現1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。價格請咨詢18817557412(微信同號)...
MORE INFO → 【TEM原位解決方案】 2019-09-29
PicoFemto系列透射電鏡原位光學樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術，樣品桿內集成光纖，桿末端可外接光源或光譜儀，實現透射電鏡內的光電測量或光譜學表征研究。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位光學樣品桿 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，同時集成光纖單元，可外接光源或光譜儀，開展光電測量......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-05-17
PicoFemto系列透射電鏡三維重構樣品桿，基于樣品端超薄設計，滿足大傾角傾轉和360度旋轉測試需求。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 三維重構樣品桿 基于樣品端超薄設計或360旋轉設計，滿足生命科學、材料科學領域對三維重構表征的不同需求。三維重構樣品桿-技術指標Tomo樣品桿360旋轉樣品桿雙傾水平旋轉樣品桿......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-05-17
PicoFemto系列透射電鏡原位拉伸樣品桿，適用于雙噴、離子減薄樣品，樣品置于拉伸基片上，手動和軟件兩種操控模式，可拉伸、可壓縮。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位拉伸樣品桿 基于高精度壓電拉伸操控，最小步長小于100nm，適用雙噴或離子減薄樣品，是研究金屬材料、納米材料、薄膜材料力學行為的重要工具。原位......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-05-17
PicoFemto系列透射電鏡原位多場耦合樣品桿，結合TEM+STM+MEMS原位技術，通過更換不同類型的原位芯片及探針，在透射電鏡中實現光、電、力、熱多種原位功能。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位多場耦合樣品桿 是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統，借助該系統，研究人員可以在透射電子顯微鏡中構建一個可......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-05-17
PicoFemto系列透射電鏡原位力學樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術，集成力測量功能，對樣品進行壓縮/拉伸過程可實時輸出力-位移曲線，支持力-電同時測量。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位力學樣品桿 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱，同時集成了AFM定量......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-05-17
PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學樣品桿，基于MEMS原位芯片技術，通過更換多種類型的加熱芯片或電學芯片，在透射電鏡中實現對樣品加熱或加電的原位功能。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位加熱/電學樣品桿 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內安裝MEMS工藝制成的加熱芯片和電學測量芯片。加熱芯片可對樣品進行可......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-05-17
PicoFemto系列透射電鏡原位測量系統源于中科院物理研究所SF1組（20世紀90年代），圍繞原位電學測量樣品桿，澤攸科技不斷進行產品迭代及功能拓展，已推出電、力、光、熱、低溫等多種原位功能樣品桿，產品覆蓋國內原位電鏡市場的同時也遠銷美國、英國、德國及澳大利亞科研市場。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位電學......
MORE INFO → 【行業動態】 2022-05-17
臺式掃描電子顯微鏡又稱臺式掃描電鏡，電子顯微鏡通過電子束對樣品成像，實現光學顯微鏡無法實現的高倍放大，是我國的卡脖子技術，也是現代科學技術中不可缺少的重要工具。 安徽澤攸科技有限公司，是一家具有完全自主知識產權的先進裝備制造公司。公司集研發、生產和銷售業務于一體，向客戶提供原位電鏡解決方案、掃描電子顯微鏡等設......
MORE INFO → 【公司新聞】 2022-01-07
東南大學徐峰、孫立濤研究團隊聯合北京大學和南京理工大學研究團隊通過反復研究制備方法初步獲得均勻的隧道結構MnO2納米棒，并借助PicoFemto?原位樣品桿在電鏡內構建了電池模型，結合電子...
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2019-09-29
高首次庫倫效率和循環穩定性的鈉離子電池研究,PicoFemto?原位電學樣品桿（STM-TEM Holder）助力華南理工大學環境與能源學院、美國佐治亞理工學院劉美林教授與華南理工大學楊成浩教授（通訊作...
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2019-09-29
利用PicoFemto?原位電學樣品桿（TEM-STM holder）在透射電鏡中實時研究了Sn@C負極材料在鋰化和脫鋰過程中的結構穩定性，發現鋰化和脫鋰過程中內部的Sn納米顆粒會周期性的膨脹和收縮。原位透射...
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2019-02-19
原位力電樣品桿研究晶界遷移機制，PicoFemto?原位力學-電學樣品桿與球差電鏡、高速相機結合，高質量地制備出多種包含不同類型晶界的金屬納米結構；在實現了穩定的原位剪切加載的基礎上，...
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2019-01-16
澤攸科技光電桿應用于新型產氫系統，PicoFemto原位光學-電學樣品桿在TEM中構建了原位光電連用測試系統，通過外接650 nm激光器對樣品施加光信號，同時利用STM電學測量系統對樣品的光電效應進...
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2018-12-21
澤攸科技的PicoFemto系列原位樣品桿在該研究中作為電池模型的載體，穩定而精確完成了測樣區域選擇以及施加電場等任務。值得一提的是，澤攸科技獨創的雙用載樣方案，相比于傳統的STM探針...
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2018-08-15
澤攸科技原位樣品桿應用于半導體器件，利用STM-TEM原位樣品桿搭載單根氧化鋅納米線，并在TEM中原位操縱、測量和觀測。研究表明，當我們使用STM探針對氧化鋅納米線施加2.63%的應力后，該材料...
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2018-08-15
澤攸科技原位桿應用于鋰電研究，利用高分辨TEM結合掃描探針式原位樣品臺，原位觀測了SnS2的充放電過程。研究表明，鋰離子電池的充電過程是一個快速發生的兩相反應。在通電后，SnS2與Li離...
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2018-08-15
利用掃描探針式原位樣品桿在透射電子顯微鏡（TEM）中精確調節CNTs缺陷的技術。這種技術不僅調節精確、過程可逆并且還具有較高重復性，對基于CNTs的諧振器器件研發意義重大。...
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2018-08-15
澤攸科技原位TEM-STM系統原位焊接，中國石油大學、燕山大學和西安交通大學聯合公開了一項在環境透射電子顯微鏡（ETEM）中利用原位亞納米操縱探針實現納米陶瓷材料焊接的技術，相關研究成...
MORE INFO → 【SEM原位解決方案】 2020-09-23