6月10日-12日，中國微米納米技術(shù)學會在重慶·兩江云頂大酒店舉辦了“微納科技與先進材料創(chuàng)新大會”，該會議旨在促進微納材料相關(guān)話題的討論，推動多學科交叉融合以及先進材料產(chǎn)業(yè)化的發(fā)展。澤攸科技作為中國半導體加工與材料表征測量設(shè)備生產(chǎn)商，應(yīng)邀參加本次展會并分享了報告。

此次大會上，澤攸科技向廣大工程師們展示了一眾針對微納技術(shù)領(lǐng)域的行業(yè)解決方案，包括PicoFemto系列原位TEM/SEM測量系統(tǒng)、ZEM系列臺式掃描電鏡、JS系列臺階儀等在內(nèi)的多個產(chǎn)品線，受到了與會者的高度關(guān)注和好評。

此外，澤攸科技的報告《原位電鏡技術(shù)在新能源電池領(lǐng)域中的應(yīng)用》也引起了廣泛關(guān)注。隨著新能源汽車市場的不斷擴大，電池作為其重要組成部分之一，也越來越受到關(guān)注。而電池的性能與材料的微觀結(jié)構(gòu)有著密切關(guān)系，因此電鏡技術(shù)成為了研究新能源電池材料的重要手段之一。澤攸科技的原位電鏡技術(shù)可以在實時、高分辨率的情況下觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)和性能變化，為新能源電池的研究提供了重要支持。

未來澤攸科技將繼續(xù)加強與全球科研機構(gòu)和產(chǎn)業(yè)界的合作，推動原位電鏡技術(shù)在新能源電池領(lǐng)域的應(yīng)用，為新能源電池領(lǐng)域的發(fā)展貢獻更多的科技力量。同時，公司還將繼續(xù)推動半導體加工與材料表征測量設(shè)備的研發(fā)和創(chuàng)新，為我國納米科研材料制備和表征技術(shù)的發(fā)展做出更大的貢獻。

ZEM18臺式掃描電鏡

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