掃描電鏡的BSE能做成分分析么
掃描電鏡（SEM）的背散射電子（BSE）圖像可以用于成分分析。背散射電子是從樣品中散射回來的高能量電子，其強度與樣品中原子序數的平均值有關。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-13
掃描電鏡（SEM）的背散射電子（BSE）圖像可以用于成分分析。背散射電子是從樣品中散射回來的高能量電子，其強度與樣品中原子序數的平均值有關。
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在掃描電鏡（SEM）中，樣品如果沒有進行噴鍍或其他導電處理，可能會出現以下問題：
MORE INFO → 行業動態 2024-06-06
提高掃描電子顯微鏡（SEM）圖像質量可以通過多種方法和優化操作來實現。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-05
掃描電子顯微鏡（SEM）的真空度是非常重要的參數，它直接影響電子束的傳播和樣品的成像質量。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-05
在掃描電子顯微鏡（SEM）中，調節焦距是獲取清晰圖像的關鍵步驟。焦距調節主要是通過控制工作距離（Working Distance, WD）和物鏡焦距（Objective Focus）來實現的。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-03
掃描電子顯微鏡（SEM）結合能量色散X射線光譜（EDS或EDX）技術，能夠提供多種成分分析功能。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-03
在掃描電子顯微鏡（SEM）分析中，硅片常用于以下幾種情況：
MORE INFO → 行業動態 2024-05-30
對于非導電樣品，掃描電子顯微鏡（SEM）分析通常需要進行導電處理，以防止在電子束照射下產生電荷積累，導致圖像失真或漂移。
MORE INFO → 行業動態 2024-05-30