行業(yè)動(dòng)態(tài)開(kāi)拓創(chuàng)新，高端品質(zhì)，真摯服務(wù)

掃描電鏡同一樣品不同時(shí)間拍圖有差異正常嗎？

掃描電鏡（SEM）對(duì)同一樣品在不同時(shí)間拍攝出現(xiàn)圖像差異是正常的現(xiàn)象，特別是在高分辨率或高放大倍率下。

判斷掃描電鏡（SEM）圖像是否對(duì)焦清晰，可以通過(guò)以下幾個(gè)方面來(lái)進(jìn)行直觀和技術(shù)性的判斷：

當(dāng)掃描電鏡（SEM）樣品尺寸太大，無(wú)法直接放入樣品倉(cāng)或樣品臺(tái)時(shí)，可以采取以下幾種方法應(yīng)對(duì)，確保安全、成像清晰且設(shè)備不受損：

掃描電鏡（SEM）樣品表面太粗糙會(huì)明顯影響成像質(zhì)量。以下是其具體影響及原因：

掃描電鏡（SEM）原理上只能拍攝黑白圖像，不能直接拍攝彩色圖像。

在使用掃描電鏡（SEM）之前，良好的前期準(zhǔn)備對(duì)確保成像質(zhì)量、避免樣品損壞和儀器污染至關(guān)重要。

掃描電鏡（SEM）能譜分析（EDS 或 EDX）對(duì)樣品制備有較高要求，制備不當(dāng)會(huì)直接影響元素分析的準(zhǔn)確性、峰位識(shí)別、含量判斷甚至導(dǎo)致誤判。

在掃描電鏡（SEM）中，能譜圖（EDS 或 EDX 圖）顯示的是樣品中不同元素對(duì)入射電子束響應(yīng)所產(chǎn)生的特征 X 射線(xiàn)的強(qiáng)度與能量的關(guān)系。