掃描電鏡（SEM）的掃描速度是可以調節的，而且這是影響圖像質量和噪聲水平的重要參數之一。調整掃描速度實際上就是改變電子束在樣品表面停留的時間（也叫“像素駐留時間”），它直接關系到信噪比、分辨率和成像效率。

在掃描電鏡中，電子束是按照一定的掃描頻率逐點移動并收集信號形成圖像的。掃描速度快時，電子束在每個像素上停留的時間短，圖像生成得更快，但由于信號積累少，信噪比降低，圖像容易出現顆粒狀噪聲或亮度不均。相反，掃描速度慢時，電子束停留時間長，信號收集更充分，圖像更平滑、對比度更高，但掃描時間會明顯增加，樣品表面也更容易受到電子束照射損傷或熱效應影響。

在實際操作中，掃描電鏡通常提供幾種不同的掃描模式，比如“快速掃描”“慢速掃描”“幀積分掃描”等。

快速掃描 適合用于初步尋找觀察區域、調整焦距或定位樣品。

慢速掃描 則用于正式成像和保存高分辨率圖像。

積分掃描 是通過對同一區域多次掃描并取平均值，來降低隨機噪聲、提升圖像質量的一種方法。

此外，有些掃描電鏡還允許手動設置每個像素的駐留時間（如 1 微秒到幾毫秒），或調整幀平均次數，這樣可以在圖像質量與時間消耗之間靈活平衡。

不過需要注意的是，當掃描速度過慢時，容易出現樣品漂移、電子束漂移或電荷積累等問題，從而導致圖像模糊或變形。而掃描過快則會降低分辨率，使細節難以辨認。因此，在拍攝高分辨率圖像時，通常會選擇中等偏慢的掃描速度，并結合穩定的工作電壓、對焦與光斑控制來獲得適合效果。