在使用掃描電子顯微鏡（SEM）時(shí)，可能會(huì)遇到一些常見(jiàn)的操作問(wèn)題。以下是一些可能出現(xiàn)的問(wèn)題及其解決方法：

圖像模糊或失真：

可能原因： 電子束調(diào)節(jié)不當(dāng)，透鏡系統(tǒng)故障，或者樣品表面不光滑。

解決方法： 重新調(diào)整電子束和透鏡系統(tǒng)，確保樣品表面平坦。檢查透鏡系統(tǒng)的清潔度。

低對(duì)比度圖像：

可能原因： 樣品表面缺乏導(dǎo)電性，或者工作距離不合適。

解決方法： 在樣品上涂覆導(dǎo)電性涂層，或者調(diào)整工作距離以提高對(duì)比度。

樣品表面充電：

可能原因： 樣品絕緣性較強(qiáng)，電子束導(dǎo)致表面電荷積累。

解決方法： 涂覆導(dǎo)電性涂層，調(diào)整電子束參數(shù)，或者使用低電子束能量。

透鏡污染：

可能原因： 透鏡或樣品臺(tái)上有污垢。

解決方法： 清理透鏡和樣品臺(tái)，確保它們保持清潔狀態(tài)。

掃描電鏡真空問(wèn)題：

可能原因： 泵或真空系統(tǒng)故障。

解決方法： 檢查真空系統(tǒng)，修復(fù)或更換故障的部件。

樣品偽影：

可能原因： 樣品表面不均勻，金屬涂層不均勻等。

解決方法： 優(yōu)化樣品準(zhǔn)備過(guò)程，確保金屬涂層均勻。

射線偽影：

可能原因： 掃描電鏡的射線進(jìn)入探測(cè)器。

解決方法： 調(diào)整儀器參數(shù)，使用適當(dāng)?shù)钠帘蝸?lái)減少射線進(jìn)入探測(cè)器。

在遇到問(wèn)題時(shí)，確保按照設(shè)備手冊(cè)的建議進(jìn)行操作，并在需要時(shí)尋求廠家或?qū)I(yè)技術(shù)支持。

ZEM20臺(tái)式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的常見(jiàn)掃描電鏡操作問(wèn)題及解決方法。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢