掃描電鏡（SEM）的工作溫度和樣品溫度控制方法在不同情況下可以有所不同。以下是一些常見的SEM工作溫度和樣品溫度控制方法：

室溫SEM：許多SEM系統(tǒng)在室溫下工作，不需要額外的溫度控制。樣品通常放置在SEM的樣品室中，可以在室溫下進(jìn)行成像。

低溫SEM：有些應(yīng)用需要在低溫條件下進(jìn)行成像，例如對冷凍樣品的研究。在這種情況下，SEM系統(tǒng)可以配備低溫樣品舞臺，通過液氮或制冷機(jī)制來降低樣品的溫度。這些系統(tǒng)通常能夠在低溫度下工作，例如液氮溫度。

高溫SEM：某些研究需要在高溫條件下進(jìn)行成像，例如對高溫材料或反應(yīng)的研究。高溫SEM通常使用加熱樣品舞臺或樣品室來實現(xiàn)高溫成像。這些系統(tǒng)可以提供高溫度范圍，通常可達(dá)數(shù)百攝氏度。

環(huán)境SEM：有一些SEM系統(tǒng)設(shè)計用于在特定氣體或氣氛下進(jìn)行成像。這些系統(tǒng)通常具有氣氛控制功能，可以控制樣品周圍的氣體環(huán)境和溫度。

加熱/冷卻樣品：針對特定應(yīng)用，還可以使用熱/冷樣品夾具或加熱/冷卻舞臺來實現(xiàn)對樣品的控制加熱或冷卻。這些設(shè)備可以實現(xiàn)更廣泛的溫度范圍，并可用于各種研究目的。

掃描電鏡的工作溫度和樣品溫度控制方法取決于具體應(yīng)用和研究需求。無論使用何種方法，溫度控制對于某些研究是至關(guān)重要的，因為它可以影響樣品的性質(zhì)和反應(yīng)，從而提供更多信息和洞察。

ZEM18臺式掃描電鏡

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