掃描電鏡通常適用于成像小至納米尺度的樣品表面，而不適用于大樣品的全尺寸成像。這是因?yàn)镾EM的成像原理和操作限制了其適用于大樣品的能力。以下是一些主要的因素：

深度焦點(diǎn)： SEM的成像方式基于電子束的掃描，它在樣品表面上獲取圖像，但通常不支持深度焦點(diǎn)。這意味著只有樣品表面的一小部分可以在某一時(shí)刻處于焦點(diǎn)，而不同深度的區(qū)域會(huì)失焦。對(duì)于大樣品，深度焦點(diǎn)問(wèn)題會(huì)導(dǎo)致不同區(qū)域的清晰度差異。

工作距離： SEM的工作距離通常在數(shù)毫米到數(shù)十毫米之間，較短。這使得它難以覆蓋大樣品的整個(gè)表面。對(duì)于大樣品，可能需要多次移動(dòng)和調(diào)整樣品位置，以獲取完整的圖像，這增加了成像時(shí)間和難度。

樣品準(zhǔn)備： 大型樣品的制備和處理可能更加復(fù)雜，需要特殊的樣品支架和準(zhǔn)備步驟。樣品表面的導(dǎo)電性也可能成為問(wèn)題，需要額外的處理。

雖然SEM不適合大樣品的全尺寸成像，但可以使用多個(gè)圖像拼接技術(shù)，通過(guò)多次掃描和圖像拼接來(lái)獲得大樣品的全景圖像。這種方法可以用于觀察大型樣品的表面結(jié)構(gòu)，但需要額外的操作和后期處理。

ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡是否支持大樣品的成像。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢(xún)