掃描電鏡（SEM）在樣品大小和形狀方面存在一些限制，適用于多種樣品類型。以下是一些常見的限制和適用性說明：

樣品大?。簰呙桦婄R對樣品大小有一定的限制。通常情況下，樣品的尺寸應適合裝載到掃描電鏡的樣品臺上。具體的尺寸限制取決于掃描電鏡的設(shè)計和配置。一般來說，樣品尺寸在幾毫米到幾厘米范圍內(nèi)較為常見。

樣品形狀：掃描電鏡對樣品形狀也有一定的限制。掃描電鏡通常需要樣品具有較為平坦的表面，以確保適當?shù)臉悠放c探測器之間的距離，從而獲得高質(zhì)量的圖像。對于非平坦的樣品，可能需要進行樣品制備，如切割、研磨、拋光等，以獲得適合掃描電鏡觀察的樣品形狀。

導電性要求：掃描電鏡中的樣品通常需要具有一定的導電性，以避免電荷積累和電荷漂移對圖像質(zhì)量的影響。對于非導電的樣品，可以通過金屬蒸鍍、碳薄膜涂覆等方法增加樣品的導電性。

真空要求：掃描電鏡需要在真空或準真空環(huán)境下進行操作，因此樣品需要能夠耐受真空環(huán)境。某些樣品可能無法在真空中穩(wěn)定地保持其形狀或性質(zhì)，因此可能需要采取特殊措施或選擇其他適合的觀察方法。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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