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掃描電子顯微鏡每一個設(shè)計作品都精妙

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揭秘掃描電鏡下的“幽靈閃光”:為何絕緣樣品會“閃白光”?

日期:2025-12-05

在微觀世界的探索中,掃描電子顯微鏡無疑是科學(xué)家和工程師們的“火眼金睛”,它能夠以納米級的分辨率呈現(xiàn)材料的表面形貌。然而這雙“火眼金睛”有時也會被“假象”所迷惑。許多操作者都遇到過一個棘手的問題:在觀測陶瓷、高分子聚合物、生物樣本等電絕緣性樣品時,圖像會突然出現(xiàn)異常的亮區(qū)、扭曲、漂移,甚至出現(xiàn)瞬間的“閃白光”,嚴(yán)重干擾了對樣品真實(shí)結(jié)構(gòu)的分析。這一現(xiàn)象的背后,正是“電荷積累效應(yīng)”(Charging Effect)在作祟。

澤攸科技掃描電鏡

“幽靈閃光”的起源:電荷積累效應(yīng)的物理本質(zhì)

要理解電荷積累效應(yīng),我們首先需要回顧掃描電鏡的工作原理。SEM是通過發(fā)射一束高能電子束,逐點(diǎn)掃描樣品表面,通過檢測電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子(SE)和背散射電子(BSE)等信號來成像的。

當(dāng)電子束轟擊樣品表面時,會發(fā)生一系列復(fù)雜的物理過程:

電子注入:入射的高能電子(即一次電子)會注入樣品內(nèi)部。

信號電子出射:一次電子與樣品原子相互作用,會激發(fā)出低能量的二次電子和高能量的背散射電子。這些出射的電子被探測器收集,用于構(gòu)建圖像。

澤攸科技掃描電鏡

圖 用電子束照射樣品時可能發(fā)生的物理過程的示意圖概述

對于導(dǎo)電樣品而言,注入的電子可以通過樣品臺和導(dǎo)電膠帶迅速傳導(dǎo)至地,從而保持樣品表面的電荷平衡。然而當(dāng)樣品是絕緣體或?qū)щ娦詷O差時,問題就出現(xiàn)了。絕緣體內(nèi)缺乏自由移動的電荷載流子,注入的電子無法被有效導(dǎo)出,從而在電子束掃描的區(qū)域不斷累積,形成一個局部的負(fù)電荷區(qū)。

澤攸科技掃描電鏡

圖 幾種常見的荷電現(xiàn)象

電荷的累積會產(chǎn)生一個與一次電子束電荷相斥的靜電場。這個額外的電場會像一個隱形的透鏡,嚴(yán)重干擾后續(xù)入射的電子束和出射的信號電子:

入射電子束偏轉(zhuǎn):累積的負(fù)電荷會對后續(xù)的入射電子束產(chǎn)生排斥力,使其偏離預(yù)設(shè)的掃描路徑。這會導(dǎo)致圖像發(fā)生幾何畸變、扭曲甚至漂移。

信號電子軌跡改變:累積的電場同樣會影響從樣品表面出射的二次電子。它可能會阻礙低能量的二次電子逃逸,或者使其軌跡發(fā)生偏轉(zhuǎn),導(dǎo)致探測器接收到的信號異常。

“閃白光”——失控的放電:當(dāng)電荷累積到一定程度,超過了材料局部的擊穿閾值時,就會發(fā)生瞬間的、不受控制的放電現(xiàn)象。這會產(chǎn)生一個強(qiáng)度極大的信號脈沖,在圖像上表現(xiàn)為一道道刺眼的亮線或一片突然“閃白”的區(qū)域,掩蓋了樣品的真實(shí)形貌。

澤攸科技掃描電鏡

圖 靜電場中任何一條電場線,都是起自正電荷(或來自無窮遠(yuǎn)處),止于負(fù)電荷(或伸向無窮遠(yuǎn))

電荷積累的程度與多個因素相關(guān),包括樣品的導(dǎo)電性、表面粗糙度、加速電壓、束流大小以及真空度等。加速電壓越高,注入的電子越多,充電效應(yīng)通常越嚴(yán)重。

馴服“閃光”的利器:現(xiàn)代電鏡的解決方案

面對棘手的電荷積累效應(yīng),科學(xué)家和設(shè)備制造商們開發(fā)出了一系列行之有效的解決方案。這些方法的核心思想無外乎兩條:要么讓樣品“導(dǎo)電”,要么“中和”掉累積的電荷。

這是傳統(tǒng)也最直接的方法。通過離子濺射或真空蒸發(fā)的方式,在絕緣樣品表面均勻地鍍上一層幾十納米厚的導(dǎo)電金屬薄膜,如金、鉑、金鈀合金或碳。

澤攸科技掃描電鏡

圖 A4紙噴金前(左)和噴金后(右)對比圖

工作原理就是這層導(dǎo)電膜為注入的電子提供了一條通往樣品臺和地的“高速公路”,有效避免了電荷的局部積累,優(yōu)勢效果也比較顯著,適用于大多數(shù)絕緣樣品,不過也有一定的局限性:

掩蓋細(xì)節(jié):鍍層本身具有一定的顆粒度,可能會掩蓋樣品表面最精細(xì)的納米結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。

成分分析干擾:進(jìn)行能譜(EDS)分析時,鍍層金屬的特征X射線峰會干擾對樣品本身元素組成的分析。例如,常用的金涂層會干擾硫、磷等元素的檢測。

樣品損傷:離子濺射過程可能對一些敏感樣品(如軟物質(zhì)、生物樣本)的表面造成損傷。

對于不希望或不適合進(jìn)行噴金處理的樣品,低真空掃描電鏡提供了一種更為優(yōu)雅的解決方案。以澤攸科技自主研發(fā)的ZEM系列臺式掃描電鏡為例,其配備的低真空成像技術(shù),正是應(yīng)對電荷效應(yīng)的利器。


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作者:澤攸科技