登上《Nature》 | 澤攸科技原位TEM在非范德華碳化物與碳氮化物超晶格中的應(yīng)用
澤攸科技作為中國(guó)本土的儀器公司，是原位電子顯微鏡表征解決方案的一流供應(yīng)商，推出的PicoFemto系列的原位透射電子顯微鏡表征解決方案，陸續(xù)為國(guó)內(nèi)外用戶的重磅研究成果提供了技術(shù)支持。
MORE INFO → TEM原位解決方案 2025-12-05
澤攸科技作為中國(guó)本土的儀器公司，是原位電子顯微鏡表征解決方案的一流供應(yīng)商，推出的PicoFemto系列的原位透射電子顯微鏡表征解決方案，陸續(xù)為國(guó)內(nèi)外用戶的重磅研究成果提供了技術(shù)支持。
MORE INFO → TEM原位解決方案 2025-12-05
澤攸科技自主研發(fā)的ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡為例，其配備的低真空成像技術(shù)，正是應(yīng)對(duì)電荷效應(yīng)的利器。
MORE INFO → 掃描電子顯微鏡 2025-12-05
澤攸科技ZEM系列掃描電鏡是一款集成度高、便攜性強(qiáng)且經(jīng)濟(jì)實(shí)用的科研設(shè)備。它具備快速抽真空、高成像速度、多樣的信號(hào)探測(cè)器選擇，適用于形貌觀測(cè)和成分分析，還能適配多種原位實(shí)驗(yàn)需求。
MORE INFO → 掃描電子顯微鏡 2025-12-05
在實(shí)際應(yīng)用中，澤攸科技的設(shè)備已被用于二維材料器件的電極制備、微流控芯片的快速成型、以及與電子束光刻（EBL）的混合套刻等前沿研究中，充分展現(xiàn)了其在快速原型制造和多功能集成方面的潛力。
MORE INFO → 其他 2025-12-05
澤攸科技ZEM系列掃描電鏡是一款集成度高、便攜性強(qiáng)且經(jīng)濟(jì)實(shí)用的科研設(shè)備。它具備快速抽真空、高成像速度、多樣的信號(hào)探測(cè)器選擇，適用于形貌觀測(cè)和成分分析，還能適配多種原位實(shí)驗(yàn)需求。
MORE INFO → 掃描電子顯微鏡 2025-12-05
金屬鹵化物鈣鈦礦因其光電特性，包括高X射線衰減能力、優(yōu)異的載流子傳輸性能和可調(diào)的帶隙，成為下一代X射線探測(cè)器領(lǐng)域中一類極具前景的材料。特別是單晶鈣鈦礦，由于其缺陷更少且沒(méi)有晶界，相比多晶材料展現(xiàn)出更優(yōu)越的性能，帶來(lái)了更高的靈敏度和更低的電子噪聲。
MORE INFO → 臺(tái)階儀 2025-12-05
當(dāng)前先進(jìn)制造、新材料與微納加工是全球科技競(jìng)爭(zhēng)的戰(zhàn)略制高點(diǎn)。以美國(guó)為代表的國(guó)家已發(fā)布國(guó)家先進(jìn)制造業(yè)戰(zhàn)略，強(qiáng)調(diào)通過(guò)發(fā)展創(chuàng)新制造技術(shù)，保障其在經(jīng)濟(jì)、國(guó)家安及供應(yīng)鏈韌性方面的領(lǐng)先地位。
MORE INFO → 納米位移臺(tái) 2025-12-05
在微納加工領(lǐng)域，電子束光刻（EBL） 技術(shù)也利用了電子束的短波長(zhǎng)優(yōu)勢(shì)。它使用聚焦后的高能電子束，像一支超高精度的“筆”，直接在涂有感光材料（抗蝕劑）的基底上進(jìn)行“繪制”，從而定義出極其精細(xì)的電路圖案。
MORE INFO → 其他 2025-11-05